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可編程恒溫恒濕箱滿足GB/T2423.3

可編程恒溫恒濕箱滿足GB/T2423.3

作者:CEO 時間:2023-03-02

信息摘要:文件名(點擊查看文件詳細說明)文件大小發(fā)布時間電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗-溫度變化619KB2011-08-13簡述:溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響,對這種影響,應使用高溫

可編程恒溫恒濕箱滿足GB/T2423.3

(可編程恒溫恒濕箱滿足GB/T2423.3)

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  發(fā)布時間

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗-溫度變化

  619KB

  2011-08-13

  簡述:

  溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響,對這種影響,應使用高溫或低溫試驗方法。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)是:

  1、溫度變化范圍的高溫或低溫溫度值;

  2、試驗樣品在高溫和低溫下的保持時間;

  3、低溫到高溫或高溫到低溫之間溫度變化的速率;

  4、條件試驗循環(huán)數(shù);

  5、試驗樣品吸收或放出之總數(shù)量;

  試驗目的:確定元件、設備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力,所需的暴露時間,取決于試驗樣品的性質(zhì)。

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  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗-恒定濕熱試驗方法

  313KB

  2011-08-13

  簡述:

  本標準等效采用IEC68-2-3《基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱》(1969年第三版)及(1984年號修正件。

  1.主題內(nèi)容與適用范圍

  本標準規(guī)定了恒定濕熱試驗的試驗程序、嚴酷等級和對試驗箱(室)的基本要求等。

  本標準適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件、材料等在恒定濕熱條件下使用和貯存的適應性。

  2.引用標準

  GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則

  GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術語

  GB2424.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導則

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  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗-交變濕熱試驗方法

  380KB

  2011-08-13

  簡述:

  本標準等效采用IEC68-2-30《基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db及導則:交變濕熱(12+12h循環(huán))》(1980年第二版)及1985年第1號修正件。

  1主題內(nèi)容與適用范圍:

  本標準規(guī)定了交變濕熱試驗的試驗程序、嚴酷等級和對試驗箱(室)的基本要求等。本標準適用了確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適應性。

  2引用標準:

  GB2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則

  GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術語

  GB2424.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導則

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  恒定濕熱-主要用于元件的加速試驗

  365KB

  2011-08-13

  簡述:

  1范圍:

  本標準規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品,主要是非氣密性元件耐濕熱劣化效應的試驗方法。本試驗不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應。

  2概述:

  在本試驗中,樣品在較長的時間內(nèi)承受很高的未飽和濕熱蒸汽壓力的作用,通常施加偏壓。本試驗在相對濕度為85%、溫度為85°C的條件下提供了若干優(yōu)先的試驗持續(xù)時間,就塑封元件而言,劣化作用是因塑料吸收水汽和水汽沿引出端滲入而引起的。

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  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗-濕熱試驗設備檢定方法

  1.28MB

  2011-08-13

  簡述:

  1范圍:

  本標準規(guī)定了濕熱試驗設備的檢定項目、檢定儀器、測量點的位置與數(shù)量、檢定步驟和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結果。

  本標準適用于對GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Db:交變濕熱試驗方法》、GB2423.9《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程Cb:設備用恒定濕熱試驗方法》和GB2423.16《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗J:長霉試驗方法》所用試驗設備的周期檢定。

  本標準也適用于類似設備的周期檢定。

  檢定項目包括:1、溫度偏差2、相對濕度偏差3、溫度波動度4、升降溫特性5、風速

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  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗-溫度試驗設備標準

  1.05MB

  2011-08-13

  簡述:

  1范圍

  1.1本標準規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結果等內(nèi)容。

  1.2本標準適用于對GB2423.1-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法》、GB2423.2-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法》和GB2423-22-87《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法》所用試驗設備的周期檢定。本標準也適用于類似試驗設備的周期檢定。

  本標準規(guī)定的檢定項目如下:1、溫度偏差2、溫度平均變化速率(適用于有溫度變化速率要求的試驗設備)3、風速4、相對濕度(適用于高溫試驗設備)5、溫度恢復時間(適用于有規(guī)定轉換時間的快速溫度變化試驗設備)

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